LCP-27 ການວັດແທກຄວາມເຂັ້ມຂອງການບິດເບືອນ

ລາຍລະອຽດສັ້ນ:

ລະບົບການທົດລອງສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນປະກອບດ້ວຍຫຼາຍພາກສ່ວນ, ເຊັ່ນ: ແຫຼ່ງແສງສະຫວ່າງທົດລອງ, ແຜ່ນ diffraction, ການບັນທຶກຄວາມເຂັ້ມຂົ້ນ, ຄອມພິວເຕີແລະຊອບແວການດໍາເນີນງານ. ໂດຍຜ່ານການໂຕ້ຕອບຂອງຄອມພິວເຕີ, ຜົນໄດ້ຮັບການທົດລອງສາມາດຖືກນໍາໃຊ້ເປັນໄຟລ໌ແນບສໍາລັບເວທີ optical, ແລະມັນຍັງສາມາດຖືກນໍາໃຊ້ເປັນການທົດລອງຢ່າງດຽວ. ລະບົບມີເຊັນເຊີ photoelectric ສໍາລັບການວັດແທກຄວາມເຂັ້ມຂອງແສງແລະເຊັນເຊີການຍ້າຍຄວາມຖືກຕ້ອງສູງ. ໄມ້ບັນທັດ grating ສາມາດວັດແທກການຍ້າຍ, ແລະວັດແທກການແຜ່ກະຈາຍຂອງຄວາມເຂັ້ມຂອງ disfraction ໄດ້ຢ່າງຖືກຕ້ອງ. ຄອມພິວເຕີຄວບຄຸມການມາແລະການປະມວນຜົນຂໍ້ມູນ, ແລະຜົນໄດ້ຮັບການວັດແທກສາມາດປຽບທຽບກັບສູດທິດສະດີ.

ສົ່ງອີເມວຫາພວກເຮົາ

ລາຍລະອຽດຜະລິດຕະພັນ

ປ້າຍກຳກັບສິນຄ້າ

ການທົດລອງ

1.Test of single slit, multiple slit, porous and multi rectangle diffraction, ກົດຫມາຍວ່າດ້ວຍການປ່ຽນແປງຄວາມເຂັ້ມຂອງການປ່ຽນແປງທີ່ມີເງື່ອນໄຂການທົດລອງ

2.A ຄອມພິວເຕີຖືກນໍາໃຊ້ເພື່ອບັນທຶກຄວາມເຂັ້ມຂົ້ນຂອງພີ່ນ້ອງແລະການແຜ່ກະຈາຍຄວາມເຂັ້ມຂົ້ນຂອງ slit ດຽວ, ແລະຄວາມກວ້າງຂອງ slit diffraction ດຽວຖືກນໍາໃຊ້ເພື່ອຄິດໄລ່ຄວາມກວ້າງຂອງ slit ດຽວ.

3. ເພື່ອສັງເກດການແຜ່ກະຈາຍຄວາມເຂັ້ມຂອງການບິດເບືອນຂອງຮູຂຸມຂົນຫຼາຍ, ຮູສີ່ຫລ່ຽມແລະຂຸມວົງ.

4.ເພື່ອສັງເກດການບິດເບືອນຂອງ Fraunhofer ຂອງ slit ດຽວ

5.ເພື່ອກໍານົດການແຜ່ກະຈາຍຂອງຄວາມເຂັ້ມຂອງແສງສະຫວ່າງ

ຂໍ້ມູນຈໍາເພາະ

ລາຍການ	ຂໍ້ມູນຈໍາເພາະ
He-Ne Laser	> 1.5 mW @ 632.8 nm
ເສັ້ນດ່ຽວ	0 ~ 2 mm (ປັບໄດ້) ມີຄວາມແມ່ນຍໍາຂອງ 0.01 mm
ຂອບເຂດການວັດແທກຮູບພາບ	ຄວາມກວ້າງຂອງຊ່ອງສຽບ 0.03 ມມ, ໄລຍະຫ່າງຂອງຮອຍແຕກ 0.06 ມມ
Grating ກະສານອ້າງອີງໂຄງການ	ຄວາມກວ້າງຂອງຊ່ອງສຽບ 0.03 ມມ, ໄລຍະຫ່າງຂອງຮອຍແຕກ 0.06 ມມ
ລະບົບ CCD	ຄວາມກວ້າງຂອງຊ່ອງສຽບ 0.03 ມມ, ໄລຍະຫ່າງຂອງຮອຍແຕກ 0.06 ມມ
ເລນ Macro	ໂຟໂຕເຊລຊິລິໂຄນ
ແຮງດັນໄຟຟ້າ AC	200 ມມ
ຄວາມຖືກຕ້ອງຂອງການວັດແທກ	± 0.01 ມມ